原厂国家： 德国 制程应用： 椭圆仪及反射仪可使用于任何粗糙表面的光学薄膜之厚度,折射率及消光系数之量测 相关连结： http://www.sentech.de/ 关键字 ： 太阳能,量测
1.Ellipsometer (椭圆仪)及Reflectometer (反射仪)为非破坏性检测之仪器 2.量测粗糙表面光学薄膜厚度及n值;如抗反射层等 3.提供高精确度、稳定度以及再现性的量测结果
