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点击放大 LayTec外延片磊晶温度与曲率量测仪
产品厂牌: LayTec
产品名称: LayTec外延片磊晶温度与曲率量测仪
产品类型: 检测设备
制程简述: 制程说明: 1. 快速量测发散率(emission)及反射率(reflectance)2. 选择性芯片量测及磊晶速率计算3. 线上即时磊晶温度量测4. 可选择 波长介于600 and 1000nm为第二干射量测波长5.光纤讯号传送,准确快速6. 体积轻巧 7. 方便有效的磊晶速率分析软件,便利...
应用领域: 线上及时GaAs, InP, GaN 磊晶温度,磊晶速率量测
浏览次数: 399        
点击放大 Laytec-外延片磊晶温度与曲率量测仪
产品厂牌: LayTec
产品名称: Laytec-外延片磊晶温度与曲率量测仪
产品类型: 检测设备
制程简述: 制程说明: 1. 快速量测发散率(emission)及反射率(reflectance)2. 选择性芯片量测及磊晶速率计算3. 线上即时磊晶温度量测4. 可选择 波长介于600 and 1000nm为第二干射量测波长5.光纤讯号传送,准确快速6. 体积轻巧 7. 方便有效的磊晶速率分析软件,便利...
应用领域: 线上及时GaAs, InP, GaN 磊晶温度,磊晶速率量测
浏览次数: 993        
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产品厂牌: LayTec外延片磊晶温度与曲率量测仪
产品名称: LayTec EpiTwin TT外延片磊晶温度与曲率量测仪
产品类型: 监测设备
制程简述: 在过去十年,LayTec已成为原位光学侦测器的主要供应商,其产品可用于科研领域,也可用于薄膜生产领域。实时检测极大地缩减了器件研发周期,增加了产量,保障了高水平的质量监控,并具有较高的重复能力。 我们的侦测器可以从沉积过程的开始以极高的精确度测量生长参数,如衬底温度、应变诱导衬底弯曲、磊晶速率、膜...
应用领域: 用于科研领域,也可用于薄膜生产领域
浏览次数: 440        
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