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Laytec
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EpiCurve® TT系列侦测器可测量同步温度、芯片选择温度、反射系数和芯片弯曲度,精确度可达到0.3 km-1。EpiTT侦测器是世界上发光二级管批量生产的首要选择,其利用两种理想波长,在结合高温测量与反射系数测量的基础上进行发射率修正温度测量。EpiRAS® TT目前还是可用于立方复合半导体的最先进的多芯片原位侦测器,是研发GaAs和InP光电器件的特殊工具
布鲁克Bruker-Axs
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X-Ray D8 Discover Diffraction system  X射线衍射仪
SynMate(鑫铭)
Laser Scriber激光切割机、Splitter 劈裂机
德国 SENTECH Instruments GmbH
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薄膜特性量测仪器
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